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電學(xué)測(cè)試
靜態(tài)電流測(cè)試（SIDD），在一定電壓下讓IC處于無負(fù)載、無振蕩狀態(tài)，將電流表的一端接電源的正極，另一端接IC的VDD腳，電流表的讀數(shù)即為IC的靜態(tài)電流。
IT6400雙極性直流電源，解析度高達(dá)1nA，既可以作為供電電源，又可以測(cè)試靜態(tài)電流。
老化測(cè)試
半導(dǎo)體的老化測(cè)試過程基本上模擬運(yùn)行了芯片整個(gè)壽命，可以用來作為器件可靠性的檢測(cè)或作為生產(chǎn)窗口來發(fā)現(xiàn)器件的早期故障。傳統(tǒng)的方法是采用電阻進(jìn)行能耗放電，這一方面會(huì)消耗大量的電能，另一方面會(huì)大大增加輸配電設(shè)備的容量，同時(shí)釋放的熱量會(huì)增加空調(diào)的負(fù)擔(dān)。通常而言，負(fù)載具有負(fù)效率特性、影響了工作環(huán)境質(zhì)量和電力開銷。其中最大的問題就是電量的浪費(fèi)。比如，一個(gè)典型的100路800W的老化測(cè)試系統(tǒng)就要消耗超過80KW才能夠提供測(cè)試功能。
IT-M3300系列小功率回饋式直流電子負(fù)載很好的填補(bǔ)了這一產(chǎn)品空白，既能模擬各種負(fù)載特性，又能將電能無污染的回饋電網(wǎng)，?U的體積內(nèi)可提供高達(dá)800W的功率吸收。
特性測(cè)試
IT-M3200高精度直流電源的電流最大可達(dá)10A，分辨率可達(dá)10nA，可以滿足用戶更多IC測(cè)試需求。另外， IT9100系列功率分析儀可代替電流表，來完成測(cè)試。
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